QFN20 3.5x3.5mm Gold-Plated Aging Test Socket for 20L DFN Chip Burn-in

Name: QFN20 3.5x3.5mm Gold-Plated Aging Test Socket for 20L DFN Chip Burn-in
SKU: 696fe00a93ab99017fbb507a
Price: 49 EUR
Availability: InStock

Τρέχουσα τιμή

Από Τιμή 49 €

με ΦΠΑ

Μοντέλο

Παράδοση εντός 🇬🇷 Ελλάδας

14–20 εργάσιμες ημέρες · 4 € ανά παραγγελία

Οι πληρωμές και το απόρρητό σας είναι ασφαλή

Επιστροφή χρημάτων λόγω μη παράδοσης

Εγγύηση ποιότητας

Ασφαλής εφοδιαστική

Προστασία απορρήτου

Ασφάλεια και συμμόρφωση

Χαρακτηριστικά

Χώρα παραγωγής

Κίνα

Περιγραφή

This product is a high-quality socket designed for the aging and burn-in testing of 20-lead DFN chips. It features a durable gold-plated finish for enhanced conductivity and reliability during testing. With dimensions of 3.5x3.5mm, this test socket is compact, ensuring precise alignment and secure holding of the chip during operations. Ideal for engineering and quality control applications, it allows for repeated use, offering a reliable solution for chip testing and longevity assessments. Part Number: QFN20 Type: Integrated Circuit (IC) Manufacture country: China Instructions included: No

Αναφορά παράνομου περιεχομένου