Випробувальний сокет QFN20 3.5x3.5мм з позолоченими контактами для чипів DFN 20L для тестування на старіння (Burn-in)

Цей продукт є високоякісною панеллю, призначеною для тестування на старіння та випробування на прогін 20-вивідних DFN-чіпів. Він має міцне покриття із золотим напиленням для покращеної провідності та надійності під час тестування. З розмірами 3,5x3,5 мм, ця тестова розетка компактна, забезпечуючи точне вирівнювання та надійне утримання мікросхеми під час операцій.. Ідеально підходить для інженерних застосувань та контролю якості, дозволяє багаторазове використання, пропонуючи надійне рішення для тестування мікросхем та оцінки довговічності. Номер частини: QFN20 Тип: Інтегральна схема (IC) Країна виробник: Китай Інструкції включені: Ні