QFN20 3.5x3.5mm Gold-Plated Aging Test Socket for 20L DFN Chip Burn-in

Name: QFN20 3.5x3.5mm Gold-Plated Aging Test Socket for 20L DFN Chip Burn-in
SKU: 696fe00a93ab99017fbb507a
Price: 1173 CZK
Availability: InStock

Aktuální cena

Od Cena 1 173 Kč

včetně DPH

Barva

testovací zásuvka - optická zásuvka
optická zásuvka + deska (nespájená)
optical socket + board (welded)

Doručení do ČR 🇨🇿

13–16 pracovních dnů · 85 Kč

Vaše platby a soukromí jsou v bezpečí

Vrácení peněz při nedoručení

Záruka kvality

Bezpečná logistika

Ochrana soukromí

Bezpečnost a soulad s předpisy

Vlastnosti

Země výroby

Čína

Popis

This product is a high-quality socket designed for the aging and burn-in testing of 20-lead DFN chips. It features a durable gold-plated finish for enhanced conductivity and reliability during testing. With dimensions of 3.5x3.5mm, this test socket is compact, ensuring precise alignment and secure holding of the chip during operations. Ideal for engineering and quality control applications, it allows for repeated use, offering a reliable solution for chip testing and longevity assessments. Part Number: QFN20 Type: Integrated Circuit (IC) Manufacture country: China Instructions included: No

Nahlásit nelegální obsah